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芯片散热救星!高性能均热板:降温 21℃还防变形

时间:2025年12月12日

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来源 | Applied Thermal Engineering

链接 | https://doi.org/10.1016/j.applthermaleng.2025.128352




01

背景介绍



高性能计算、AI、5G 等技术推动芯片热流密度突破 500W/cm²,传统铜均热板(Cu IHS,导热率 387.6W/(m・K))存在局部热点与散热瓶颈,限制设备性能与可靠性。均热板(VC)缺乏系统优化框架,未明确关键封装面积比(PAR);热机械可靠性数据缺失,忽视热应力 - 应变对长期使用的影响;多数 VC 研究未与行业标准 Cu IHS 直接对比,实用价值难以评估。




02

成果掠影


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近日,华南理工大学李勇团队提出了一种高性能的均热板集成散热器(VC IHS),它具有梯度毛细吸液芯和微柱增强空腔,用于增强两相散热。建立并验证了 3D 等效热导率(3D-ETC)模型,通过与传统铜均热板(Cu IHS)在 200-800W 功率、2-10 封装面积比(PAR)下的对比实验,发现PAR=8 为最优值,此时 500W 功率下 VC IHS 的峰值结温较 Cu IHS 降低 21.29℃,表面温度梯度减少 92%,800W 时芯片最大翘曲量降低 51.03%,其基于相变传热的二维径向散热机制,为下一代紧凑型高功率电子设备提供了高效可靠的热管理方案。研究成果“Heat transfer impact of high-performance vapor chamber as integrated heat spreader of computing chips”为题发表在《Applied Thermal Engineering》。






03

图文导读


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图1.集成散热器的封装级架构。


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图2.先进芯片封装的代表性冷却解决方案。(a)具有微通道DBC的3D结构[5]。(b)嵌入DBC板的铜层或陶瓷层中的冷却通道[11]。(c)前窄后宽的通道[4]。(d)Y形通道[7]。(e)微通道VC的详细信息[12]。(f)冷凝器和蒸发器中液-汽界面的液体流动原理[13]。

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图3. VC IHS的横截面示意图。

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图4.所制造的VC IHS的3D结构和关键内部特征。


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图5. VC IHS的主要制造工艺和设备。

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图6. VC IHS传热性能实验系统。

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图7.传热路径热阻的简化示意图。

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图8.简化模型的X、Y和Z方向。


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图9.各部件导热系数的简图。


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图10.实验和模拟结果的比较。(a)PAR = 6时的热阻。(b)PAR = 6时VC IHS的表面温度分布。(c)PAR = 7.6时的热阻。(d)PAR = 7.6时VC IHS的表面温度分布。


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图11. PAR对IHS缩放和热响应的影响。(a)不同PAR值的IHS尺寸。(b)500 W时Cu IHS和VC IHS的最大管芯Tj。


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图12. VC-IHS在500 W时的热性能和模型拟合。(a)热阻与PAR的关系。(b)γ与PAR的关系:拟合函数和实验。


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图13. 500 W时不同PAR下的芯片温度图。(a-c)VC IHS,PAR = 2、4、10;(d-f)Cu-IHS,PAR = 2、4、10。


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图14.不同功率下PAR = 8(IHS/裸片)时的裸片温度图。(a,b)VC IHS:200 W和800 W;(c,d)Cu-IHS:200 W和800 W。


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图15. PAR = 8时Cu IHS和VC IHS的表面温度分布。


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图16. Cu IHS和VC IHS的芯片变形与功率的关系。