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富乐华半导体申请一种双面覆铜陶瓷基板的制备方法专利

时间:2025年07月05日

来源 | 国家知识产权局




[洞见热管理]获悉,近日,国家知识产权局信息显示,四川富乐华半导体科技有限公司申请一项名为“一种双面覆铜陶瓷基板的制备方法”的专利,公开号CN120229967A,申请日期为2025年03月。


专利摘要显示,本发明公开了一种双面覆铜陶瓷基板的制备方法,属于集成电路制作领域,包括以下步骤:步骤S1~S4,将铜箔粘结到陶瓷基板的一面,进行第一次烧结氧化,形成单面覆铜陶瓷基板,步骤S5~S8,将铜箔粘结到陶瓷基板的另一面,进行第二次烧结氧化,形成双面覆铜陶瓷基板,烧结过程中,覆铜陶瓷基板放置在垫板上,垫板放置在垫片上,垫片下表面与输送带接触,烧结炉的炉底板位于输送带的下方,炉底板上均匀开设有通孔,通孔孔径为1~15mm,开孔率为20~50%。