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仿生叶脉 + 相变散热!碳化硅基 CoVC 封装被动散热

时间:2025年12月25日

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来源 | communications engineering

链接 | https://doi.org/10.1038/s44172-024-00338-6




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背景介绍


随着第三代半导体技术的飞速发展,硅 carbide(SiC)、氮化镓(GaN)等宽禁带材料凭借优异的高频、高压特性,成为高速 rail、电动汽车、国防等领域核心器件的关键支撑。但芯片集成度与功率密度的持续飙升,让散热难题成为制约其性能突破的核心瓶颈 —— 传统封装材料导热性差,芯片热点与冷却液间存在巨大热阻,不仅需要庞大散热器占用空间,还得依赖主动制冷技术消耗大量能源,严重阻碍了电子设备的小型化与能效提升。现有解决方案中,主动冷却需额外泵送功率,结构复杂且不适用于紧凑封装;即便能效更优的浸没式被动冷却,也面临冷却液回流效率不足、温度均匀性难保障的问题。如何打造低阻、高效、节能的散热封装结构,让芯片在高负荷下稳定运行,已成为全球电子封装领域的迫切需求。




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成果掠影


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近日,华南师范大学白鹏飞团队创新性提出 “芯片 - 蒸汽室”(CoVC)封装结构,以物理和结构上与芯片兼容的碳化硅(SiC)为基底,嵌入蒸汽室并采用被动相变传热机制,彻底摒弃了传统散热所需的高能耗制冷设备,实现芯片热点热量的快速扩散。为进一步提升传热性能,研究团队通过原位反应烧结与激光烧蚀技术制备多尺度复合吸液芯,并灵感源自植物叶脉设计出 Y 形、放射形、H 形及双叶复合等四种仿生吸液芯结构,其中放射形(P-B)结构表现最优,在 100W 热负荷下热阻低至 0.20℃・W⁻¹,是五种测试结构中的最低值。相较于传统单尺度吸液芯,多尺度结构的散热功率提升 67%,传热性能整体提升 164%,120W 热负荷下芯片结温最低仅 105.14℃,有效避免了热传递恶化现象。 thermal simulation 结果显示,在 100W/cm² 热流密度下,CoVC 封装的芯片最高温度仅 109℃,较传统固体散热片(THS)低 50℃;当热流密度达 160W/cm² 时,其热阻仅为 0.34℃・W⁻¹,仅为传统封装的三分之一。该技术不仅能在不增加能耗的前提下倍增全球计算能力,还能为 2030 年全球数据中心节省约 1200TWh 电力,为新能源汽车、高速列车、国防等领域的高性能芯片提供了紧凑、高效、节能的散热解决方案,具有重大的工业应用价值与环保意义。研究成果以“Bioinspired thermally conducting packaging for heat management of high performance electronic chips”为题发表在《communications engineering》期刊。




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图文导读


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图 1 芯片 - 蒸汽室(CoVC)集成热管理概述

a CoVC 传热示意图:芯片产生的热量传导至碳化硅蒸汽室(SCVC),触发冷却液蒸发并将热量传递至蒸汽室外壁;b CoVC 俯视图:芯片通过铜金属化层直接键合在 SCVC 上;c 具有拓扑凹槽的多尺度复合吸液芯,吸液芯可提供足够的毛细压力,将冷凝后的冷却液输送回蒸发器;d 芯片与 SCVC 顶板的集成模型;e 多尺度复合吸液芯细节,吸液芯包含小颗粒、大颗粒和通道,通道可为工作液提供高渗透性,有利于 SCVC 的质量传递和传热。


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图 2 芯片 - 蒸汽室(CoVC)爆炸视图

从上至下分别为绝缘栅双极晶体管(IGBT)芯片、顶板(蒸发器)、顶板内表面碳化硅吸液芯、多孔碳化硅柱、底板内表面碳化硅吸液芯、底板(冷凝器)和充液管。


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图 3 具有多尺度复合吸液芯的芯片 - 蒸汽室(CoVC)热性能评估

a CoVC 实物图:绝缘栅双极晶体管(IGBT)芯片直接键合在碳化硅蒸汽室(SCVC)上;b 多尺度复合吸液芯与吸液芯柱实物图,吸液芯和吸液芯柱烧结在碳化硅板上;c 多尺度复合吸液芯的扫描电子显微镜(SEM)图像,采用连续二氧化碳激光在吸液芯表面制备凹槽,激光烧蚀后,纳米颗粒沉积在碳化硅大颗粒上形成纳米多孔层;d 纳米多孔结构的 SEM 图像,根据达西定律,纳米级孔隙对冷却液具有强毛细压力;e CoVC 的启动特性;f CoVC 的工作温度曲线;g CoVC 的热阻;h CoVC 在重力辅助和反重力条件下的热性能偏差。


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图 4 具有仿生叶脉结构吸液芯的芯片 - 蒸汽室(CoVC)热性能评估

a 不同植物叶脉:Y 形银杏叶脉、放射状棕榈叶脉、H 形香蕉叶脉;b 不同叶脉图案的 CoVC 仿生吸液芯结构:P-A(Y 形银杏叶脉)、P-B(放射状棕榈叶脉)、P-C(H 形银杏叶脉)、P-D(Y 形与 H 形叶脉结合的双叶仿生结构);c CoVC 的芯片温度;d CoVC 的热阻;e CoVC 的激光烧蚀表面占比与最小热阻,具有 P-B 仿生吸液芯结构的 CoVC 激光烧蚀占比最低,且热阻最小。注:CG = 双向交叉凹槽吸液芯。


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图 5 碳化硅蒸汽室(SCVC)与传统固体散热片(THS)封装结构的热性能对比

a SCVC 的热仿真图;b 采用传统固体散热片(THS)的芯片热仿真图;c 含 SCVC 的散热片封装结构示意图;d 含 THS 的散热片封装结构示意图;e SCVC 与 THS 的仿真芯片温度;f SCVC 与 THS 的仿真热阻。


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图 6 碳化硅蒸汽室(SCVC)制备流程图

a 实心碳化硅板示意图;b 精密研磨后的 SCVC 底板;c 内表面烧结吸液芯层的 SCVC 碳化硅板;d 吸液芯层激光烧蚀示意图;e 碳化硅板、吸液芯层与充液管的组装示意图;f 脱气、注入去离子水及密封示意图。


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图 7 碳化硅板内表面的干燥碳化硅浆料

a 碳化硅块实物图;b 精密研磨后的碳化硅块实物图;c 内表面带有干燥碳化硅浆料的碳化硅板实物图。


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图 8 碳化硅蒸汽室(SCVC)热性能测试装置示意图

测试平台主要由四部分组成:功率加热系统、温度数据采集单元、对流冷却单元和样品固定装置。右侧为树脂固定块内部爆炸视图,主要包括金属热源、酚醛树脂绝缘块、SCVC、铜液冷板和弹性垫片。通过整合固定各组件,可实现反重力、顺重力和水平三种工作状态的切换。


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